Холдинг «Швабе» зарегистрировал «Способ определения локальных доз ионизирующих излучений космического пространства за защитными экранами с аналитической формой поверхности».
Изобретение относится к области защиты облучаемых элементов от ионизирующих излучений космического пространства (ИИКП). Инициатором проекта выступило предприятие Холдинга «Швабе» – ПАО «Красногорский завод им. С.А. Зверева» (ПАО КМЗ). Благодаря новому научному решению ученые смогут оптимизировать конструкцию защитных экранов (ЗЭ) космической аппаратуры для противостояния повреждениям.
Повреждение той или иной специальной техники может происходить за счет воздействия локальной дозы ионизирующих излучений космического пространства на оптико-электронную аппаратуру путем поглощения энергии в материалах конструкции. Локальной дозой считается сумма отдельных видов излучений: электронов и протонов естественных радиационных поясов Земли (ЕРПЗ) и протонов солнечных космических лучей (СКЛ). Уникальная разработка способна минимизировать повреждения космической аппаратуры и тем самым продлить срок службы техники.
«Основное преимущество нашей разработки – это большая точность предварительной оценки величины локальных доз ионизирующих излучений. В связи с этим, мы можем осуществить оптимизацию, которая позволит повысить защитные функции корпусов блоков и отдельных узлов аппаратуры от радиационного воздействия. Космическое приборостроение – стратегически важное направление инновационного развития страны. Наш опыт позволяет реализовывать проекты разного уровня сложности. В данном случае, успех авторской мысли обусловлен глубоким анализом и высоким научным потенциалом», – отметил главный конструктор аппаратуры дистанционного зондирования Земли ПАО КМЗ Сергей Архипов.
Патент на способ, зарегистрированный в качестве изобретения и выданный Холдингу «Швабе», удостоверяет авторство, приоритет и исключительное право на его использование на территории России. Уникальное изобретение «Способ определения локальных доз ионизирующих излучений космического пространства за защитными экранами с аналитической формой поверхности» будет находиться под охраной патента на протяжении 20 лет.